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收起百科↑ 最近更新:2023年04月04日
检测项:温度循环 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:温度冲击试验 检测样品:电磁继电器 标准:电磁继电器总规范 GJB65B-99
检测项:密封-粗检漏 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
机构所在地:陕西省西安市
检测项:钙 检测样品:钨及钨制品 标准:钨的发射光谱分析方法 YS/T 559-2009 光谱分析方法 直读光谱法测定纯钨中20种杂质元素量 QJ/ZCC08.01(FC)4003-2003
检测项:铝 检测样品:钨及钨制品 标准:钨的发射光谱分析方法 YS/T 559-2009 光谱分析方法 直读光谱法测定纯钨中20种杂质元素量 QJ/ZCC08.01(FC)4003-2003
检测项:砷 检测样品:钨及钨制品 标准:钨的发射光谱分析方法 YS/T 559-2009 光谱分析方法 直读光谱法测定纯钨中20种杂质元素量 QJ/ZCC08.01(FC)4003-2003
机构所在地:湖南省株洲市
机构所在地:上海市
检测项:TFe、CaO、MgO、SiO2、P、Al2O3 检测样品:矿石与矿物 标准:铁矿-硅、钙、锰、铝、钛、镁、磷和全铁含量的测定-X射线荧光光谱分析法 CSM 02 01 95 01-1999
机构所在地:江苏省张家港市